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日本PHL公司双折射(应力)测量仪原理及特点

时间:2020-04-17  来源:北京欧屹科技有限公司  浏览次数:1121
      透明物体由于不均匀冷却或其他如受机械作用等原因,其内部会产生内应力,引起双折射,晶体物质本身具有双折射的光学特征。应力双折射仪采用偏振光电矢量合成及光学补偿原理,通过对样品的光程差的定量测定,确定样品应力双折射的大小。

  日本PHL公司应力双折射仪的原理:   
    
当光穿透具有双折射特性的透明物质时,光的偏光状态会产生变化。换句话说,比较光穿透物体前之后的偏光状态,即可评估物质的双折射。该设备装配的偏光感应器,使用了日本PHL公司特有的光子晶体技术组装而成的偏光感应器,能瞬间将偏光资讯以影像方式提取保存。再搭配专属的演算、画像处理软件,能将双折射分布数据定量化,变成可以分析的资料。

 用途:
      应力仪是用来检查透明物体内应力大小和分布状况的仪器。不仅在光学玻璃、光学仪器、玻璃制品、塑料制品等工业得到广泛应用,而且在建材、灯具、制药、饮料、工艺品安全防爆指标的检验方面也占有重要地位,在水晶饰品制作、地质矿产、材料科学领域也有不少应用。同时,本仪器也是各大专院校特别理想的教学实验设备。

       日本PHL公司应力双折射仪系统特点:

  1、操作简单/快速测定:独特的偏振成像传感器进行简单的和快速的操作即可测量相位差的分布。

  22D数据的多方面分析功能:二维数据的强大分析功能,能够直观解释被测样品的特性。

  3、大相位差测试能力:通过对三组不同波长的测量数据进行计算,WPA系统可以测量出几千nm范围内的相位差。

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