当前位置:首页>>行业资讯>>行业新闻>> 美国邦纳发布LE250系列中短距离检测激光位移传感

美国邦纳发布LE250系列中短距离检测激光位移传感

时间:2014-11-14  来源:中国电子元件网  浏览次数:308
  美国邦纳近日发布了全新LE250系列中短距离检测(400mm)激光位移传感器,该传感器是一款高精度的基于三角测量法的激光位移传感器。拥有坚固的金属外壳,一体式设计符合IP67防护等级;达到0.2mm高精度检测分辨率;具备小光斑、双行8位数显易于使用。可以高速,非接触,可靠地测量各种目标物,其优良的线性阵列式光学组件可克服以往激光位移传感器测量远距离限制或者因为颜色变化和材料不同而过多影响测量精度。可广泛适用于汽车制造、橡胶、纺织、物流、包装等行业。
  一体式的激光测量传感器
  0.2mm分辨率
  坚固金属外壳
  双行8位数显,按键设定;测量值清晰易见
  红色2级激光发射光源
  小光癍,易使用
  4~20 mA或0~ 10V模拟量输出
  100~400mm中短距离/高精度测量
  IP67防护等级
相关资讯
资讯推荐
热门新闻排行
  1. 低功耗+安全通信,华大电子CIU32L0系列MCU引领智能表计新潮流!
  2. 益昂通信推出第二代 ChronoPHY™万兆PHY芯片功耗降低40% 赋能AI边缘网络基础设施
  3. 方案拆解 | Edge AI算力重构,Synaptics新平台背后的Arm Cortex M52 + Ethos U55
  4. 陶氏公司亮相COMPUTEX TAIPEI 2026,以创新热管理材料科学助力实现“AI Together”
更多>>视频分享