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TO封装集成电路老化测试插座

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  • 产品/服务:

    型 号:TO-4、6、8、10、12

    规 格:TO-4、6、8、10、12

    供货总量:1 只 最小起订量:1 只
    有效期至:长期有效 最后更新:2019-03-08
    发货期限:自买家付款之日起 7 天内发货 
产品详情
TO封装集成电路老化测试插座

该插座用于金属壳封装集成电路的老化、测试、筛选作连结之用,连结金属管材料采用磷青铜表面镀金、 镀银、镀镍等工艺,该插座耐高温、绝缘性能好,经久耐用,深受用户的欢迎。

产品型号及规格;

TO-4、6、8、10、12

主要技术指标;

环境温度;-55℃―+155℃ 接触电阻;≤0.01欧 工作电压;DC500V 单脚插入力;≤0.2Kg

磷青铜管镀银层厚度;1um镍2um银 高低温状态下插拔寿命;2000-3000次.

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