尘埃粒子可视化检测

亚微米级尘埃粒子可视化检测系统

核心优势

通过相机与光源非接触式可视化生产设备中亚微米级异物，实时拍摄与评估。为粒子计数器无法应对的环境提供全新的异物管理方案。

1.无需激光即可通过肉眼观察1微米以下的微粒。

2.可拍摄亚微米级（约0.1微米）的摄像系统。

3.通过##图像处理技术，支持悬浮异物与沉积异物检测。

4.行业最小最轻的照射单元与相机，可直接安装于生产设备。

产品核心定位

CVS-S（ContaminationVisualizationSystem）作为一款亚微米级异物可视化系统，借助非激光光源与高灵敏度相机的协同配合，能够对生产环境中的微小异物进行非接触式实时监测。该系统成功填补了粒子计数器在部分场景下的应用空白，为企业提供了全新且高效的异物管理方案。

应用场景

生产过程质量把控

l  实时监测生产环境、原材料或半成品中的微粒子污染，及时发现超标风险。

l  定位异物来源（如设备磨损、空气粉尘、原材料杂质），辅助优化生产流程。

产品合规与安全保障

l  满足半导体、医药、汽车等行业的严格质量标准，确保产品符合行业规范。

l  规避安全隐患，比如医药领域防止微粒子混入注射剂，保障人体使用安全。

研发与工艺优化

l  分析微粒子对产品性能的影响（如光纤传输、屏幕显示效果），指导工艺改进。

l  验证净化设备（如无尘车间、过滤器）的效果，优化洁净度控制方案。

配置参数

实测案例