红外应力双折射测量仪WPA-NIR_电子元器件产业网

硫系，红外树脂等材料对可见光不透过，这样的样品残余应力评估很难实现，为此Photonic Lattece 专门研制了WPA-NIR双折射测量仪，采用850nm或940nm波长，能高速的测量和分析近红外材料的双折射/残余应力分布，安装既有的操作简单和实用的软件WPA-View，可以自由分析任意线上的相位差分布图形、任意区域内的平均值等的定量数据可搭配流水线对应的『外部控制选配』，也可应用于量产现场

WPA-NIR

主要特点：

红外波长的双折射/相位差面分布测量
硫系、红外透明树脂等的光学畸变评估
小型、簡単操作、高速測量
WPA-NIR能高速的测量/分析波长为850nm或940nm的双折射分布
安装既有的操作简单和实用的软件WPA-View
可以自由分析任意线上的相位差分布图形、任意区域内的平均值等的定量数据
可搭配流水线对应的『外部控制选配』，也可应用于量产现场

主要功能：

高速测量面的双折射/相位差分布
NIR波长仅需操作鼠标数秒内就能获取高密度的双折射/相位差信息
测量数据的保存/读取简单快捷
全部的测量结果都可以做保存/读取，易于跟过去的测量结果做比较等
丰富的图形创建功能
可以自由制作线图形和直方图
测量结果可以在一个图形上做比较，也可以用CSV格式输出

产品/服务：
型号：WPA-NIR	规格：台
品牌：Photonic Lattece
供货总量：	最小起订量：
有效期至：长期有效	最后更新：2023-02-14
发货期限：自买家付款之日起天内发货

红外应力双折射测量仪WPA-NIR

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