半导体分立器件静态参数测试仪系统设备STD2000X

                            半导体静态参数测试仪系统设备STD2000X能测很多电子元器件静态参数以及IV曲线扫描

如 Si, SiC, GaN 材料的 IGBTs，Diodes，MOSFETs，HEMT，BJTs，SCRs，光耦，继电器，稳压器......

可以外接夹具、工装、探针台、分选机、编带机、机械手

高压源 1400V（选配2KV/2.5KV/3KV）/唐工

高流源 40A（选配 100A,200A,300A,500A,1000A）

栅极电压电流 20V（选配40V/100V）/唐工

分辨率至 100uV / 100pA 精度可至 0.1%

静态参数测试 + IV 曲线扫描 + 光耦开关特性 + 二极管 Trr + 分选机探针台连接

多种配置规格和功能，支持非标定制和咨询，请联系苏州永创团队