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西安天光测控技术有限公司

半导体分立器件各类测试仪

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雪崩能量测试仪参数雪崩能量测试仪浪涌电流测试仪IGBT测试仪晶体管测试仪半导体分立器件作为在电力电子行业中应用*为广泛的基 		2023-09-15
MOSFET&IGBT开关时间测试仪ITC57300替代产品
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西安天光测控IGBT静态参数测试仪，替代LEMSYS的测试仪
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天光测控T3Ster热阻测试仪
T3Ster热阻测试仪T3Ster热阻测试仪产品概述T3Ster热阻测试仪 是Mentor Graphics公司研发制造的先进的热瞬态测试仪，用于测试IC、 		2023-09-15
天光测控MOSFET&IGBT 栅极电荷门极电荷测试仪
产品系列晶体管图示仪半导体分立器件测试筛选系统静态参数测试（包括IGEs/VGE(th)/VCEsat/VF/ICEs/VCEs等）动态参数测试（包括Tu 		2023-09-15
LEMSYS汽车级IGBT模块低电感动态测试系统
汽车级IGBT模块的低电感动态特性测试系统品牌型号：瑞士 LEMSYS / TRd 2015（天光测控ST-AC1520##替代该系列产品）一、汽车级IGB 		2023-09-15
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