点击图片查看大图64通道V-I曲线模拟通道测试(可测模拟器件)
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数字集成电路测试参数规格：
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数字集成电路测试参数规格 |
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测试通道数: |
64通道可扩展到256通道/6500可扩充2048通道 |
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总线隔离信号通道数: |
4通道or 8通道 |
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实时比对功能: |
需有二个64通道, 或128通道 |
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输出驱动电压 |
TTL/CMOS 标准 |
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输出驱动电流: |
电流依不同的逻辑电平阈值有下列区分 |
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一般H-L 80mA @ 0.6V |
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一般 L-H 200mA @ 2V |
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Max. 400mA |
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驱动电压转换比: |
>100V/μs |
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电压范围: |
+/-10V |
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输入阻抗: |
10k |
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逻辑形态: |
三态或开集极开路(内定或由程序设定) |
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驱动逻辑形态: |
Low,high,三态(tri-state) |
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过电压保护范围: |
<0.5V,>5.5V |
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*长测试时间: |
根据被测元器件而定 |
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测试方式: |
在线及离线测试(需外接离线测试盒) |
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测试功能及参数 |
参数主要区别 |
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集成电路功能测试 |
根据元件原理和真值表进行功能测试 |
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元器件连接特性测试 |
短路状态侦测 |
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悬浮(浮接)状态侦测 |
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开路状态侦测 |
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连接状态侦测:6500可以自定义仪器输出通道的电压范围(-10~+10v),模拟仿真测试范围更加广泛. |
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电压测量 |
*小解析10mV范围+/-10V |
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具逻辑状态侦测 |
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VI曲线测试: |
测试通道数64 256(扩展) |
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电压设定范围-10Vto+10V(可自行设定),可以设置非对称电压扫描 |
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*大测试电流 1mA |
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曲线拐点系数: |
管脚的v-i曲线图中的拐点图形,随温度产生变化的系数,对于判定温漂的故障元件非常有助 |
电源供给规格参数：
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自动供给电源输出: |
1 x 5V @ 5A 固定式 |
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(2x5V@5A固定式for128信道) |
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过电压保护: |
7V |
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过电流保护: |
7A |
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测试模式 |
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单次(Single): |
单次测试 |
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循环(Loop): |
反复测试,或条件式循环测试(PASS或FAIL) |
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自动扫描测试: |
可找到较为严格的逻辑电平阈值 |
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逻辑电平阈值设定规格参数 |
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*小调整解析: |
100mV |
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低信号位准: |
TTL 0.1V to 1.1V/CMOS 0.1V to 1.5V |
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转态位准: |
TTL 1.0V to 2.3V/CMOS 1.0V to 3.0V |
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高信号位准: |
TTL 1.9V to 4.9V/CMOS 1.9V to 4.9V |
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扫描低逻辑范围: |
TTL 0.1V to 1.1V/CMOS 0.1V to 1.5V |
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扫描逻辑转态范围: |
TTL 1.2V/CMOS 2.5V |
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扫描高逻辑范围: |
TTL 1.9V to 4.9V/CMOS 1.9V to 4.9V |