深圳市展芯科技有限公司

       依托于自有的芯片失效分析实验室，展芯科技得以根据*前端的测试需求不断地研发改

进探针台系统，以满足用户日新月异的测试需求。同时，芯片失效分析实验室也为展芯的探

针台系统提供了理论联系实际的测试平台，芯片分析实验室用户在使用探针台系统的同时，

也给我司产品提供了宝贵的改进建议。

经过10 年的发展和积累，展芯已在探针台系统的应用技术领域取得了##的成绩，可

针对用户不同的测试需求定制解决方案，如微弱电流测试（1fA）、RF 和mmW 测试（THz）、

高功率测试（100A，10kV）、真空高低温测试（-196℃~800℃）、光电测试等等。

凭借着PRC 的产品，展芯赢得了半导体行业内知名科研机构和公司的信任和尊重，建

立了长期的合作关系。展芯的探针台系统已在国内外的科研院所、学校和公司中获得广泛的

使用，如中科院、广州五所（赛宝实验室）、北京自动化设备研究所、电子科技大学、西安

电子科技大学、清华大学、北京大学、复旦大学、香港大学、香港科技大学、香港城市大学、

华为、中兴、比亚迪、富士康等等。

        感谢您对展芯的关注，相信我们PRC 的产品定能让您在集成电路 (IC)、电路板、光学

器件、MEMS、3D TSV、LCD 等先进半导体器件的精密电气测量及测试中获得精准可靠的

测试数据。