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LJZ型双列集成电路带板老化测试
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产 品:
浏览次数:576
LJZ型双列集成电路带板老化测试
型 号:
DIP
规 格:
LJZ-14、16、18
最小起订量:
1 只
供货总量:
1 只
发货期限:
自买家付款之日起
7
天内发货
更新日期:
2019-03-08 有效期至:长期有效
详细信息
LJZ型双列集成电路带板老化测试座
该产品用于##航天、军工、科研单位以及集成电路生产企业,可配进口老化台、老化板做器件及高、低温测试、老化筛选作连接之用。
产品型号及规格;
带板LJZ-14、18
主要技术指标;
间距;2.54mm 环境温度;-55℃―+155℃ 接触电阻;≤0.01欧 工作电压;DC500V
单脚插入力;≤0.2Kg 弹片金层厚度;1um镍2um金
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